干货分享|爱普生晶体CE测试为工程师排忧解难!
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晶体是一个重要的被动器件,如果晶体的频率不稳,甚至不起振,就会导致设备屏幕闪烁,时间不准确,通讯失败等情况。
负载电容是影响晶体频率的重要参数,负载电容也叫CL,当CL满足一定条件,才会输出目标频率。比如参数为12.5pF,32.768kHz,±20ppm的晶体。指的是当CL=12.5pF时,就是外围所有电容的集合为12.5pF时,输出的频率才是32.768 kHz ,±20ppm。
因此晶体的选型匹配十分重要,爱普生为客户提供晶体回路匹配测试,简称CE测试。客户提供原理图和电路板,我们进行CL的调整,评估输出频率,驱动功率,起振能力,使其工作在一个稳定的、适合的状态。正所谓:
时钟偏差问题多,
工程采购不背锅。
罪魁祸首是晶体?
CE测试好处多。
通过上面的视频,大家对CE测试一定有了更深入的了解。如需了解CE测试相关流程可通过邮件咨询:ecc-electronicdevice@ecc.epson.com.cn,同时自2024年12月起,部分爱普生的授权代理商也会开始提供面向社会的CE测试,届时将有更多客户可以享受这项服务。
爱普生还上线了选型与购买系统“爱普生电子元器件易选中心” (爱普生电子元器件易选中心_电子元器件 - 爱普生中国 (epson.com.cn),对不同人群提供了多种选型指南与购买方式,可谓“一键选型,送货到家。快来尝试一下吧!
(*客户选型后由爱普生授权第三方提供销售与配送服务,爱普生不对第三方行为负责。)
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